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MOCVD/MBE红外测温仪
MOCVD/MBE红外测温仪

MOCVD/MBE红外测温仪

关 键 字: 短波 低温测量 Photrix红外测温仪
产品编号:美国|MIKRON|红外测温仪
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产品描述

主要特点:特殊波段,温度范围宽泛,用于MOCVD、MBE系统的测温组件;
目前被AIXTRON指定为MOCVD设备测温器件,同时被国内高校、研究院所用于纳米材料生长的观察研究;

技术参数:

 

Photrix

温度范围 

400 to 2600 °C

220 to 2600 °C

210 to 2600 °C

70 to 2600 °C

30 to 2400 °C

波长 

650µm 用于高温金属、太阳能、SiC 材料测温

880µm 用于化合物半导体材料测温

900 µm 半导体,硅材料测温

1550µm 金属和陶瓷工艺测温

700-1650um 低温金属、陶瓷、金属氧化工艺测温

发射率ε

0.001-1.000

响应时间

1ms

精度

读数0.15% 1.5°C

漂移

每年不超过0.15°C

瞄准方式

可选择辅助激光瞄准